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硅、、锗单晶电阻率测定 直流两探针法 GB/T 1551-19

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26号文,关于下达2006-2008年第二批半导体材料国家标准修订计划的通知精神,对中华人民共和国国家标准GB/T 1551-1995《 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》和GB/T 1552
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GB/T 1552-1995 硅、锗单晶电阻率测定直排四探针法 国家标准(GB) GB/T1552-1995 本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。本标准适用于测量试样厚度和从
用户名: 密码: 中文名称: 硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法 英文名称: 版本: 标准状态: 废止 中国标准分类 (CNS): 【H21】 国际标准分类 (ICS): 【77.040.30】 发布日期
GBT1551-1995硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法.rar GB/T 28603-2012 无水氟化氢生产技术规范 GB/T 28714-2012 取水计量技术导则 GB/T 28765-2012 包装材料 塑料薄膜、片
国标简介: 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法 GB/T 1552-1995 本标准规定了用直排四探针测量硅、锗单晶电阻率的方法。 本标准适用于测量试样厚度和从试样边缘与任一探针
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